測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
導航×
新聞資訊
News時間：04-06 2023 來自：祥宇精密
品檢二次元儀器怎么用
品檢二次元測量儀有兩種測量方法，一種是切線法，一種是采點計算法。
切線法是指人工旋轉屏幕上或者鏡頭內刻線，分別對準工件兩條邊線，通過編碼器或者圓光柵計數來測量角度的方法。切線法操作方便簡單，但是測量精讀低，適合快速批量檢測，如果被測件角度精讀要求較高。采點計算法所有的幾何元素都是有點組成的，包括基本元素直線，曲線和圓弧。二維平面角度由基本幾何元素兩條直線組成，直線由無數的點組成。所以角度測量準確與否，采點是最關鍵的。
二次元影像儀本身的硬件CCD以及光柵尺，通過USB及RS232數據線傳輸到電腦的數據采集卡中，將光信號轉化為電信號，之后由影像測量儀軟件在電腦顯示器上成像，由操作員用鼠標在電腦上進行快速的測量。如果電腦配置附合要求，測量軟件絕對不會產生圖像滯后現象。根據測量工件大小的不同，也可以選擇不同行程的工作臺面。光源亮度可以在各種光線條件下選擇最合適的光源亮度。光源類型(分為底光和表面光)可根據測量工件來進行調節控制以達到最好的效果。
400-801-9255
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
郵 箱：dgxycmm@163.com
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